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簡單介紹：

四探針測試儀用于半導體、薄膜、導電涂層等材料的電學性能測試。四探針薄膜厚度測試儀核心作用是消除接觸電阻和引線電阻的影響，從而獲得更準確的測量結果

詳情介紹：

四探針測試儀是運用四線法測量原理的多用途綜合測量裝置，配上專用的四探針測試架，就可以測量片狀，塊狀或柱狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。四探針測試架有電動，手動，手持三種可以選配，另外還配有四個夾子的四線輸入插頭用來作為測量線狀或片狀電阻的中，低阻阻值.

四探針測試儀（Four-Point Probe）是一種用于測量材料電阻率（resistivity）和薄層電阻（sheet resistance）的高精度儀器，尤其適用于半導體、薄膜、導電涂層等材料的電學性能測試。其核心作用是消除接觸電阻和引線電阻的影響，從而獲得更準確的測量結果。

典型應用場景：

半導體行業：硅片、GaAs等晶圓的電阻率測試。摻雜工藝后的電學性能驗證。

薄膜材料：ITO（透明導電膜）、太陽能電池薄膜、金屬鍍層的薄層電阻測量。

科研領域：納米材料（石墨烯、碳納米管）、有機半導體材料的導電性分析。

工業生產：液晶顯示（LCD）、柔性電路（FPC）的導電涂層質量控制。

四探針測試儀技術參數：

產品名稱	四探針測試儀
產品型號	CY- SZT
測量范圍	電阻率	10??-105?-cm
	方塊電阻	10??- 105?/□
	電阻	10-?- 105 ?
可測半導體材尺寸	直徑	Ф15-100mm
可測半導體材尺寸	長（或高）度	≤400mm
測量方位	軸向，徑向均可
數字電壓表	量程	20mV,200mV,2V
	誤差	±0.5%讀數±2字
	輸入阻抗	>10??
	分辨率	10μV
	點陣液晶顯示	過載顯示
恒流源	電流輸出	共分10μA,100uA,1mA,10mA,100mA五擋可通過按鍵選擇，各擋均為定值不可調節，電阻率探頭修正系和擴散層方塊電阻修正系數均由機內CPU運算后，直接顯示修正后的結果
恒流源	誤差	±0.5%±2字
四探針測試頭	探針間距	1mm
	探針機械游移率	±1.0%
	探針材料	碳化鎢(或高速鋼),Ф0.5mm
電源	交流	220V±10%
電源	功耗	<35W

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產品名稱：四探針薄膜厚度測試儀